传统难题迎突破：光谱分辨率与成像通量“两难困境”被破解

长期以来，光谱测量技术面临一个难以调和的矛盾——光谱分辨率与成像通量之间的“两难困境”。传统分光采集方式与固化结构限制了技术的发展，使得高分辨率与高通量难以兼得，成为制约光谱技术应用的关键瓶颈。这一问题长期困扰着科研人员，严重阻碍了相关技术在多个领域的深入发展。

创新架构引领变革：智能光子原理打开新思路

面对这一挑战，方璐教授团队另辟蹊径，基于智能光子原理，提出了一种全新的可重构计算光学成像架构。该架构突破了传统物理分光的限制，将光谱信息的获取过程转化为光子调制与计算重建的协同过程，为解决光谱分辨率与成像通量的矛盾提供了全新路径。

协同计算助力突破：“玉衡”芯片实现技术飞跃

通过深入研究随机干涉掩膜与铌酸锂材料的电光重构特性，团队成功实现了高维光谱调制与高通量解调的高效协同计算。在此基础上，团队研发出名为“玉衡”的高性能光子芯片。这款芯片体积仅为2厘米×2厘米×0.5厘米，却具备强大的功能。

在性能方面，“玉衡”芯片表现出色，可在400至1000纳米宽光谱范围内，实现亚埃米级的光谱分辨率和千万像素级的空间分辨率，支持单次快照完成全光谱与全空间信息的同步获取。这一成果将快照光谱成像的分辨能力提升了两个数量级，标志着光谱分辨率与成像通量无法兼顾的历史正式终结，为高分辨光谱成像开辟了崭新的发展方向。